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日本 IM3536 LCR測試儀
日本 IM3536 LCR測試儀DC，4Hz~8MHz測量頻率，今后的*產(chǎn)品
測量頻率DC，4Hz~8MHz
測量時間：快1ms
基本精度：±0.05% rdg
1mΩ以上的精度保證范圍，也可安心進行低阻測量
可內部發(fā)生DC偏壓測量
從研發(fā)到生產(chǎn)線活躍在各種領域中
日本 IM3536 LCR測試儀主機不標配測試治具。請在選件中選擇測試治具和探頭。
日本 IM3536 LCR測試儀技術參數(shù)；
| 測量模式 | LCR（單一條件下測量），連續(xù)測量（保存條件下連續(xù)測量） |
| 測量參數(shù) | Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流電阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε |
| 測量量程 | 100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程（所有參數(shù)由Z規(guī)定） |
| 顯示范圍 | Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等 |
| 基本精度 | Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保證范圍：1mΩ~200MΩ） |
| 測量頻率 | 4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步進) |
| 測量信號電平 | [V模式, CV模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (大50 mA) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (大10 mA) [V模式, CV模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (大100 mA) [CC模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (大5 V) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (大1 V) [CC模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (大1 V) [直流電阻測量]: 1 V固定 |
| DC偏壓 | 發(fā)生范圍：DC電壓0~2.50 V (低Z高精度模式時0 ~1 V) |
| 輸出阻抗 | 通常模式：100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω |
| 顯示 | 彩色TFT5.7英寸，觸摸屏 |
| 功能 | 比較器、BIN測量（2個項目10種分類），觸發(fā)功能、開路·短路補償、接觸檢查、面板保存·讀取功能、存儲功能 |
| 接口 | EXT I/O (處理器), /USB/U盤/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD輸出 |
| 電源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max |
| 體積及重量 | 330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg |
| 附件 | 電源線×1,使用說明書×1,CD-R（通訊說明書，LCR應用光盤）×1 |
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